SIGAA - Sistema Integrado de Gestão de Atividades Acadêmicas

Resumo do Componente Curricular

Dados Gerais do Componente Curricular

Tipo do Componente Curricular:

DISCIPLINA

Unidade Responsável:

PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIAS DE MATERIAIS - PPG-CIMA (11.01.29.06)

Código:

PPGCIMA3969

Nome:

CARACTERIZAÇÃO MICROESTRUTURAL E MORFOLÓGICA DE MATERIAIS

Carga Horária Teórica:

60 h.

Carga Horária Prática:

0 h.

Carga Horária Total:

60 h.

Pré-Requisitos:

Co-Requisitos:

Equivalências:

Excluir da Avaliação Institucional:

Não

Matriculável On-Line:

Sim

Horário Flexível da Turma:

Sim

Horário Flexível do Docente:

Sim

Obrigatoriedade de Nota Final:

Sim

Pode Criar Turma Sem Solicitação:

Sim

Necessita de Orientador:

Não

Exige Horário:

Sim

Permite CH Compartilhada:

Não

Permite Múltiplas Aprovações:

Não

Quantidade de Avaliações:

Ementa:

Ementa: Microscopias Óptica, Eletrônica (de transmissão e de varredura) e de Força Atômica. Interação da radiação com a matéria (radiação eletromagnéticade, elétrons, prótons e nêutrons). Espectroscopias Raman e de Absorção de Raios X (XAS - EXAFS e XANES). Difratometria de Raios-X, de Nêutrons e Técnicas de Refinamento. Técnicas de Espalhamento a Baixo Ângulo (SANS e SAXS).

Referências:

Bibliografia:1. C. Kittel, Introdução à Física do Estado Sólido, 5ª Edição, Guanabara-Koogan, Rio de Janeiro, 1978.2. C. Hammond, The Basics of Crystallography and Diffraction, Oxford University Press, 1997.3. A. Clarke e C. N. Eberhardt, Microscopy techniques for materials science, Cambridge, Woodhead Publishing Limited, 2002.4. International Tables for X-Ray Crystallography, Volumes 1 e 2, Kynoch Press, Birmingham, 1986.4. Jenkins, R., Snyder, R.L., Introduction to X-ray Powder Diffractometry, Ed. J. D. Winefordner. John Wiley & Sons (1996).5. Klug, H.P., Alexander, L.E. X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials, John Wiley & Sons, New York, 2a Edição (1974).6. P. Lindner e T. Zemb, Neutron, X-Ray and Light Scattering, Elsevier, 1991.7. A. Guinier, G. Fournet, Small Angle Scattering of X-Rays, Wiley, 1955.

Currículos
Código	Ano.Período de Implementação	Matriz Curricular	Obrigatória	Período	Ativo
35/1	2018.1	CIÊNCIAS DE MATERIAIS/PPG-CIMA - Mestrado - Presencial	Não	0	Sim

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